Diseño e Implementación de un Generador de Huecos de Tensión para Pruebas de Robustez
Palabras clave:
generador de SAGS, bajo costo, curva ITIC, curva CBEMA, SEMIF47, LabVIEWResumen
Los huecos de tensión (también llamados sags o dips) son uno de los fenómenos eléctricos más comunes existentes en la red eléctrica, y consiste en la reducción del valor eficaz de tensión durante un breve periodo. Ya que a los fabricantes de equipos eléctricos y electrónicos se le exige cierta tolerancia a este fenómeno eléctrico. Se requiere de un dispositivo capaz de generar huecos de tensión de forma controlada fuera de la red eléctrica, con el propósito de poder realizar pruebas de robustez y verificar que se cumplan las normativas que caracterizan el fenómeno como lo serían SEMI-F47, CBEMA y la curva ITIC. Teniendo en consideración lo anterior, se diseñó y construyó un equipo capaz de generarlos, y de alimentar una carga que demande una corriente considerable haciendo uso de equipo con suficiente capacidad para suministrar energía, y con a la opción de establecer parámetros como la magnitud, tiempo y velocidad de lectura de datos, mediante una interfaz gráfica intuitiva que fue diseñada mediante LabVIEW. A pesar de que existen pequeñas limitantes, estos equipos pueden ser despreciados si se tiene en consideración que el coste de implementación es hasta seis veces más económica que la opción comercial más barata existente en el mercado. El dispositivo puede ser utilizado para equipos que demanden 1 kVA.
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Referencias
DRANETZ. (2005). PowerGuide® 4400 USER’S GUIDE.
Dugan, R. C., McGranaghan, M. F., Santoso, S., & Beaty, H. W. (2002). Electrical Power Systems Quality (Second). McGraw-Hill.
emcsosin. (2021). Single phase 10A cycle drop generator VDT S10.
Horowitz, P., & Hill, W. (2015). The art of electronics (3rd ed.). Cambridge University Press.
IEEE. (2019). 1159-2019 - IEEE Recommended Practice for Monitoring Electric Power Quality | IEEE Standard | IEEE Xplore. IEEE Std 1159-2019.
Information Technology Industry Council (ITIC). (2000). ITIC (CBEMA) curve application note.
International Electrotechnical Commission. (2017). Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-11: Testing and measurement techniques – Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests. International Standard, 1.
Ma, Y., & Karady, G. G. (2008). A single-phase voltage sag generator for testing electrical equipments. Transmission and Distribution Exposition Conference: 2008 IEEE PES Powering Toward the Future, PIMS 2008. https://doi.org/10.1109/TDC.2008.4517185
National Instruments. (2008). User Guide and Specifications: USB-6008/6009. System, 1–32. https://doi.org/371303L-01 May08
SEMI. (2006). Specification for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity. SEMI F47-0706.
Senturk, O. S., & Hava, A. M. (2010). A simple sag generator using SSRs. 2010 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, ECCE 2010 - Proceedings. https://doi.org/10.1109/ECCE.2010.5618292
Tan, R. H. G., & Ramachandaramurthy, V. K. (2015). A Comprehensive Modeling and Simulation of Power Quality Disturbances Using MATLAB/SIMULINK. In Power Quality Issues in Distributed Generation. https://doi.org/10.5772/61209
Yang, Y., Blaabjerg, F., & Zou, Z. (2012). Benchmarking of voltage sag generators. IECON Proceedings. https://doi.org/10.1109/IECON.2012.6389164
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